在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。环节的存在目的是为了筛选残次品，以防止其进入下一道的工序，并由此减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光、电、波、力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号。
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